離子遷移率譜技術(shù)（Ｉｏｎ　ｍｏｂｉｌｉｔｙ?。螅穑澹悖簦颍铮恚澹簦颍桑停樱┠壳耙驯粡V泛應(yīng)用于痕量化學(xué)戰(zhàn)劑、毒品、炸藥等的快速檢測以及各種有機污染成分的實時監(jiān)測和分析。它是在一定溫度和氣壓下，通過精確測定弱電場中氣相離子的漂移時間來確定待測物質(zhì)的種類。因此，ＩＭＳ常用于氣相樣品的檢測。將液相或固相樣品快速高效轉(zhuǎn)化為氣相，引入ＩＭＳ系統(tǒng)進行檢測，是當前ＩＭＳ技術(shù)的研究熱點。其中熱解析方法是應(yīng)用較多的一種樣品進樣方法，如文獻報道了用于微量物質(zhì)檢測的陶瓷蒸發(fā)器、加熱解附管、吸附萃取攪拌棒、固相微萃取器等多種進樣裝置。國外商品化的ＩＭＳ大多采用半透膜進樣，在進樣口前設(shè)置加熱盤或加熱管用于樣品的汽化。通常這些進樣裝置的體積較大，樣品解析時間長，造成進樣濃度低，在進樣過程中樣品容易因為局部的溫度不均勻和進樣氣流不穩(wěn)定等而出現(xiàn)損失，難以用于定量檢測；特別對于高沸點物質(zhì)或不穩(wěn)定物質(zhì)，樣品容易在溫度較低的區(qū)域重新凝結(jié)或過熱分解，引起物質(zhì)結(jié)構(gòu)改變或組分丟失，從而造成交叉污染，最終影響分析結(jié)果。提出一種與ＩＭＳ半透膜結(jié)合的熱解析進樣方法，用以實現(xiàn)液體和固體樣品的快速分析。所制備的進樣裝置用于自制的ＩＭＳ系統(tǒng)，以低濃度三聚氰胺水溶液為檢測對象，研究熱解析工作條件對ＩＭＳ產(chǎn)物離子峰和檢測效果的影響，通過優(yōu)化熱解析的加熱過程有效縮短進樣時間，提高ＩＭＳ的檢測靈敏度。

  不同的熱子加熱電流下加熱盤溫度曲線。在加熱時間較短時，加熱盤溫度上升呈近似線性關(guān)系。隨著加熱時間延長，溫度不斷上升，由于有熱傳導(dǎo)等損失，加熱盤會達到平衡溫度，實驗中加熱盤到達平衡的時間都超過２０ｓ。要縮短升溫時間，就需要增大電流，提高加熱功率。所制備的熱解析器在電流為３Ａ?xí)r，２ｓ內(nèi)溫度升到２００℃ 以上，４ｓ后溫度達到了３８０℃，可滿足快速升溫，樣品集中釋放要求。與陶瓷等其它材料制備的加熱盤相比，溫度變化迅速，而且不銹鋼表面不易吸附環(huán)境中的物質(zhì)，易于清潔處理。在加熱中心區(qū)可以涂覆特定的吸附材料（如ＰＤＭＳ等）進行固相微萃取等操作，再熱解附檢測，實現(xiàn)極低濃度預(yù)富集ＩＭＳ測量。