根據(jù)顯微鏡目前聲學(xué)掃描顯微鏡檢查的現(xiàn)狀提出了兩點建議:1)關(guān)于聲學(xué)掃描顯微鏡的標(biāo)準(zhǔn)亟待更新;2)對于由于國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)和國外標(biāo)準(zhǔn)存在的差異而導(dǎo)致某美元器件合格與否存在爭議的題若國內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)較為嚴(yán)格,則在保證爭議器件不被應(yīng)用于極其惡劣的環(huán)境和高精密的核心部件上的前提下可以考慮允許使用該器件。聲學(xué)掃描顯徽鏡檢査(SAM)作為一種無損探傷的手段已被國內(nèi)外普遍應(yīng)用于保證塑封元器件的高可靠性方面。上海締倫光學(xué)儀器有限公司介紹顯微鏡是利用聲波在不同介質(zhì)中聲阻特性不同,接收到的回波時間和范圍不同的原理,從而檢測出塑封元器件內(nèi)部的分層、空洞和裂紋等,以便在元器件篩選時剔除有缺陷的器件。然而,由于國內(nèi)外關(guān)于SAM的標(biāo)準(zhǔn)存在許多差異,相同的缺陷表征,依據(jù)不同的標(biāo)準(zhǔn)可能會得到不同的結(jié)論。因此,標(biāo)準(zhǔn)之間的差異不僅會對分析元器件造成一定的困擾,而且還會對進口元器件的使用帶來一定的爭議。