介質(zhì)膜干涉濾光片光譜為單峰波形適合檢定手動調(diào)節(jié)波長的分光光度計,錯釹濾波片、氧化鈥濾波片光譜均為多峰波形適合檢定自動掃描波長的分光光度計。在實際工作中、可見分光光度計都是手動調(diào)節(jié)波長,且等級均為II、IV,紫外可見分光光度計手動調(diào)節(jié)波長、自動掃描波長兩種方式都存在。因此、檢定可見分光光度計時,使用介質(zhì)膜干涉濾光片最佳,使用鐠釹濾波片可操作性較差。上海精科檢定手動調(diào)節(jié)波長紫外可見分光光度計時,可使用介質(zhì)膜干涉濾光片檢定B段,氧化鈥濾波片檢定A段,不考慮操作性差這一因素,也可以只使用氧化鈥濾波片檢定A段、B段。檢定自動掃描波長紫外可見分光光度計時,同時使用氧化鈥濾波片、錯釹濾波片可測得240~820nm范圍內(nèi)的峰值點,彌補了單獨使用氧化鈥濾波片只能測得240~640nm范圍的峰值點,所測波長范圍較短的缺陷,比較符合JJG1782007中要求每隔100nm至少選擇一個波長檢定點的要求。另外、上海儀電分析儀器有限公司在選擇介質(zhì)膜干涉濾光片時,需注意波長半寬<10nm、峰值透射比>50%。介質(zhì)膜干涉濾光片的性能指標隨著時間會變差,波長半寬變長、峰值透射比變低。氧化鈥溶液波長標準物質(zhì)光鐠為多峰譜圖,雖然可以用于各個級別的可見紫外分光光度計檢定,但從經(jīng)濟和可操作性角度考慮,一般用于I、II級的紫外可見分光光度計檢定。