測試準(zhǔn)備
5.1.1 開機(jī)自檢
儀器接通電源,顯示屏幕出現(xiàn)歡迎界面,稍后微機(jī)進(jìn)行系統(tǒng)自檢(如下圖),儀器進(jìn)入初始化狀態(tài)。注:初始化過程中請(qǐng)勿打開樣品室門!
5.1.2 波長修正
通過設(shè)置界面進(jìn)行操作,詳見5.1.3 放置參比與待測樣品選擇測試用的比色皿,把盛放參比和待測的樣品放入樣品架內(nèi),參比放入樣品架R, 待測的樣品放入S1 到S7 位置。
鍵盤操作
L2 和L5 系列的鍵盤操作是通過觸摸屏幕下方的鍵盤區(qū)域?qū)崿F(xiàn)的。如右圖:此鍵盤上共有26 個(gè)鍵,其中11 個(gè)鍵是數(shù)字鍵,4 個(gè)鍵是顯示屏上菜單選擇(光標(biāo))的方向鍵,11 個(gè)是功能鍵?,F(xiàn)分別將各鍵的功能敘述如下:
◆【F1 】----【F4 】鍵
在不同級(jí)菜單中有不同的功能,具體操作方法見各菜單。
◆【0 】—【9 】、【· 】【/ 】【- 】鍵共11 個(gè)鍵,為數(shù)字鍵和小數(shù)點(diǎn)及正負(fù)選擇,可在儀器規(guī)定范圍內(nèi)自由選擇某一特定的參數(shù),如常用的波長值,A、T、E 值的上、下限定值及濃度參數(shù)等?!簟尽?】、【← 】、【↑ 】、【↓ 】鍵共計(jì)四個(gè)鍵,用來移動(dòng)光標(biāo)的上、下、左、右,使儀器操作者能夠方便選擇需要的參數(shù)項(xiàng),輸入相應(yīng)的參數(shù)值。按動(dòng)上述某一鍵,光標(biāo)跳動(dòng)一檔(格),即可輸入或修正某一數(shù)字。
◆【ENTER 】鍵
該鍵為輸入確認(rèn)鍵,在你輸入數(shù)字或選擇好某菜單后,只要你認(rèn)為內(nèi)容準(zhǔn)確無誤,便可啟用該鍵確認(rèn)下來。若你的輸入和選擇被儀器接受,便可立
即進(jìn)入下一個(gè)輸入過程。
◆【CE 】鍵
該鍵為清除鍵,當(dāng)您的輸入數(shù)字錯(cuò)誤時(shí),或您目前想改變上述輸入,按此鍵后,可重新輸入設(shè)定。
◆【GOTO WL 】鍵
該鍵為設(shè)定波長鍵,在儀器進(jìn)行單波長測定時(shí),若您準(zhǔn)備移動(dòng)工作波長點(diǎn),按此鍵后,即能讓您重新設(shè)定一個(gè)新的工作波長點(diǎn)。
◆【AUTO ZERO 】鍵
該鍵為自動(dòng)校零鍵,當(dāng)您在進(jìn)行測定過程中按下此鍵后,即自動(dòng)校正零點(diǎn)即T = 100%或A = 0.000
◆【START/STOP 】鍵
運(yùn)行鍵和程序動(dòng)作停止鍵。在完成一個(gè)測定過程的參數(shù)輸入以后,按動(dòng)此鍵,儀器就執(zhí)行所設(shè)定的程序?;虍?dāng)完成一個(gè)測定過程后,若要繼續(xù)下一
個(gè)測定過程,只要再按此鍵,就可以繼續(xù)測定一次。如完成一個(gè)掃描測定樣品以后,按下此鍵,可以再進(jìn)行下一個(gè)樣品的測定?;蛳胪V拐谶M(jìn)行的程序動(dòng)作,按動(dòng)此鍵后,儀器當(dāng)前的測定程序即刻停止,儀器將等待您選擇了新的程序方式后,再繼續(xù)工作。
◆【MODE 】鍵
該鍵為返回鍵,按此鍵可返回上一級(jí)菜單。
◆【PRINT 】鍵
該鍵為打印鍵,按此鍵可打印測量數(shù)據(jù)和圖譜。
應(yīng)用操作
6.1 光度測量
6.1.1 測量菜單
在主菜單中按【1 】鍵即可進(jìn)入此功能塊。按【MODE 】鍵可以返回主菜單。
屏幕說明:
● 波長: 波長顯示
按【GOTO WL 】鍵設(shè)置波長:用數(shù)字鍵輸入所需測定的波長值,再按【ENTER 】鍵確認(rèn)。
屏幕提示:請(qǐng)稍等··· 儀器自動(dòng)將波長移動(dòng)到您所需測定的波長值。如輸入波長超出可選范圍(190 nm~1100nm)。屏幕則提示:error 此時(shí)只要輸入正確波長即可。
單波長測試時(shí),若需工作燈選定,必須在主菜單中第5 項(xiàng)[系統(tǒng)值設(shè)置]中完成。
● 數(shù)據(jù):透過率顯示。按【AUTO ZERO 】鍵,屏幕提示:請(qǐng)稍等···儀器將自動(dòng)調(diào)零調(diào)滿度。
● Cell=R:當(dāng)前處于光路中比色架孔位為 R。
● PRT: 表示允許打印。按【 PRINT 】鍵,將屏幕的圖文拷貝在您的繪圖儀中。按鍵說明:
◆【F1 】
T(透射比)與Abs(吸光度)轉(zhuǎn)換鍵。按【F1 】鍵,可進(jìn)行T/A 轉(zhuǎn)換。
◆【↑ 】和【↓ 】
逐個(gè)移位樣品架,與F3 移位不同。F3 可以直接跳至選定的樣品架。
◆【F3 】
比色架孔位移動(dòng)選擇鍵。或按【MODE 】退出。
1-R 2-S1 3-S2 4-S3 5-S4 6-S5 7-S6 8-S7: 比色架孔位的代碼。按【1~8 】鍵:可選擇相應(yīng)的比色架孔的位置處于光路中,然后屏幕自動(dòng)返回。
◆【PRINT 】
打印當(dāng)前數(shù)據(jù)。
◆【MODE 】
屏幕退出鍵。按此鍵可使屏幕返回。
6.1.2 測試舉例
首先設(shè)定測試波長。當(dāng)您把所需參數(shù)輸入結(jié)束后,用配對(duì)比色皿分別倒入?yún)⒈葮悠放c待測樣品。打開樣品室將它們分別放置比色皿架R、S1,蓋好
樣品室門,然后按下【AUTO ZERO 】鍵。屏幕提示:調(diào)零中···
儀器自動(dòng)調(diào)整0%(暗電流)及100%(滿度)。自調(diào)結(jié)束屏幕提示消失后,按右方向鍵比色皿架移至S1,此時(shí)就可得到您所需待測樣品數(shù)據(jù)。
每個(gè)未知樣品測量完成后,可以按【PRINT 】鍵對(duì)所測得數(shù)據(jù)進(jìn)行打印輸出。
6.2 光譜測量
6.2.1 參數(shù)設(shè)置
在主菜單中按【2 】鍵即可進(jìn)入此功能塊。按【MODE 】鍵可以返回主菜單。
屏幕說明:
光譜掃描的測量菜單共分上下兩屏,按【→ 】方向鍵,屏幕進(jìn)入了緊接著的下一屏菜單。按【← 】方向鍵,屏幕返回上半菜單。
● Cell=R:當(dāng)前處于光路中比色架孔位為 R。
● 方式:測量方式的設(shè)定。
連續(xù)按【1 】鍵,分別可出現(xiàn)帶光亮條的“ABS”,“EN”,“T%”字樣,可設(shè)定你所需的式,然后按【ENTER 】鍵確認(rèn)設(shè)定。
當(dāng)選擇[EN]能量測量方式時(shí),能量方式的倍率和能量波長的設(shè)定,將在其他所有參數(shù)設(shè)置后,按選【START/STOP 】后出現(xiàn)子菜單進(jìn)行設(shè)定。
● 波長:掃描范圍的設(shè)定。
按【2 】鍵,在起始波長數(shù)值處出現(xiàn)光亮條,可輸入設(shè)定數(shù)值,然后按【ENTER 】鍵確認(rèn),這時(shí)亮條出現(xiàn)在終止波長數(shù)值處,可輸入設(shè)定數(shù)值,
再按【ENTER 】。掃描波長數(shù)值設(shè)定時(shí),其起始波長數(shù)值必須小于終止波長數(shù)值,不能倒置。
● 范圍:測試范圍的設(shè)定。
按【3 】鍵,在起始測試數(shù)值處出現(xiàn)光亮條,可輸入設(shè)定數(shù)值,然后按【ENTER 】鍵確認(rèn),這時(shí)光亮條出現(xiàn)在終止測試數(shù)值處,可輸入設(shè)定數(shù)
值,再按【ENTER 】鍵確認(rèn)。測試范圍數(shù)值設(shè)定時(shí),其起始測試數(shù)值必須小于終止測試數(shù)值,不能倒置。
● 速度:掃描速度設(shè)定。
連續(xù)按【4 】鍵,分別可出現(xiàn)帶光亮條的“中”,“慢”,“快”字樣,可設(shè)定你所需的掃描速度,然按【ENTER 】鍵確認(rèn)設(shè)定。
● 間隔:掃描波長間隔設(shè)定。
連續(xù)按[5]鍵,分別可出現(xiàn)帶光亮條的“1nm”,“2nm”,“5nm”,“0.1nm”,“0.5nm”字樣,可設(shè)定你所需的掃描波長間隔,然按【ENTER 】鍵確認(rèn)設(shè)定。如采樣間隔為0.1nm,掃描波長范圍大于200 nm 時(shí)。屏幕提示:基線校正點(diǎn)數(shù)>200nm(0.1nm)需要對(duì)參數(shù)進(jìn)行重新設(shè)定。
按鍵說明:
◆【F1 】光譜掃描基線校準(zhǔn)。
◆【↑ 】和【↓ 】逐個(gè)移位樣品架,與F3 移位不同。F3 可以直接跳至選定的樣品架。
◆【F3 】比色架孔位移動(dòng)選擇鍵。
1-R 2-S1 3-S2 4-S3 5-S4 6-S5 7-S6 8-S7: 比色架孔位的代碼。按1~8 鍵:可選擇相應(yīng)的比色架孔的位置處于光路中,然后屏幕自動(dòng)返回。
◆【START 】根據(jù)所設(shè)定的波長與測試范圍,啟動(dòng)光譜掃描。
當(dāng)選擇[EN]能量測量方式時(shí),需要先選擇能量方式的倍率和能量波長的設(shè)定,才能繼續(xù)測試。首先輸入倍率,按【ENTER 】確認(rèn)后,繼續(xù)輸入能量切換波長,按【ENTER 】確認(rèn)后,進(jìn)入測試。
◆【F2 】曲線載入。即可調(diào)用已有的光譜掃描圖譜供參照。詳見6.2.4。
◆【MODE 】屏幕退出鍵。按此鍵可使屏幕返回。
6.2.2 曲線掃描
所有參數(shù)設(shè)定完成后,用配對(duì)比色皿分別倒入?yún)⒈葮悠泛痛郎y樣品。打開樣品室將它們分別放置比色皿架R、S1,蓋好樣品室門,再按【F1 】鍵進(jìn)行基線校準(zhǔn)。屏幕提示:正在校準(zhǔn)··· 按【START/STOP 】鍵停止基線校正結(jié)束后,按【F3 】鍵使比色皿架移至S1,再按【START/STOP] 】鍵,儀器開始掃描。屏幕顯示掃描圖譜:掃描結(jié)束后,屏幕出現(xiàn)各種功能提示。
按鍵說明:
◆【F1 】
進(jìn)入圖譜處理功能,此功能用于圖譜的縮放、峰、谷檢測以及存儲(chǔ)菜單。
◆【PRINT 】
當(dāng)屏幕顯示[PRT]表示可以打印,則按選【PRINT 】鍵,打印輸出已完成的當(dāng)前測試曲線。
◆【< >移標(biāo)】:掃描曲線軌跡跟蹤移動(dòng)標(biāo)記。如右圖。
連續(xù)按【← 】和【→ 】鍵,移動(dòng)標(biāo)記會(huì)自左往右或者自右往左在象限內(nèi)出現(xiàn),移有曲線光標(biāo)和實(shí)時(shí)坐標(biāo)顯示,可以掃描曲線軌跡跟蹤移動(dòng)標(biāo)記。光標(biāo)所到之處,能分別檢出掃描曲線相應(yīng)的x 與y 數(shù)值。
6.2.3 圖譜處理
在曲線掃描界面按選【F1 】鍵后,進(jìn)入圖譜處理界面。按1~3 不同的數(shù)字鍵,分別可執(zhí)行圖譜的縮放、峰谷檢測以及存儲(chǔ)功能。屏幕說明:
●【1.縮放】
按選鍵盤上的【1 】進(jìn)入右圖界面,按標(biāo)尺數(shù)值上的光亮條,分別輸入并確認(rèn)相應(yīng)數(shù)值,若不用修改也可使用【ENTER 】鍵跳至下一個(gè)標(biāo)尺。
輸入數(shù)值結(jié)束后,按【MODE 】鍵確認(rèn),實(shí)現(xiàn)圖譜縮放?;虬础綟1 】重修輸入標(biāo)尺。
●【2.峰谷】
按選鍵盤上的【2 】,進(jìn)入圖譜峰谷的顯示。屏幕顯示“請(qǐng)輸入檢測靈敏度:2 (1~3)”,用戶選擇需要的靈敏度后,按選【ENTER 】確認(rèn)后。屏幕如圖顯示。顯示按測得的峰谷數(shù)據(jù),是每個(gè)被檢測到的峰/谷的中心波長與吸收峰值。若出現(xiàn)多頁面,可使用【↑ 】和【↓ 】進(jìn)行頁面翻動(dòng),每一屏都允許打印。按【PRINT 】鍵,將屏幕的圖文拷貝在您的繪圖儀中。按【MODE 】鍵,將退出當(dāng)前功能,返回。
●【3.存儲(chǔ)】
按選鍵盤上的【2 】進(jìn)入圖譜存儲(chǔ)功能。所顯示阿拉伯?dāng)?shù)字代表有12 個(gè)圖譜存儲(chǔ)單元,若其中一個(gè)單元已經(jīng)存儲(chǔ)了的話,如果不希望覆蓋它,可在其余的三個(gè)中選擇,然后按【MODE 】鍵返回。如果希望覆蓋它,則選擇該單元的編號(hào)。單元的選擇是通過方向鍵【← 】【→ 】【↑ 】
【↓ 】改變光亮條選定。選擇好存儲(chǔ)單元后,轉(zhuǎn)至需要鍵入文件名的界面,同樣按方向鍵改變光亮條,可任意選擇26 個(gè)字母和10 個(gè)阿拉伯?dāng)?shù)字中任何字符組成當(dāng)前要存儲(chǔ)的文件名,文件名最多為8個(gè)字符,分別用【ENTER 】鍵確認(rèn)。取得文件名,然后再按【MODE 】鍵確認(rèn)圖譜以文件名方式保存。圖譜調(diào)用詳見6.2.4。
6.2.4 圖譜調(diào)用
在參數(shù)設(shè)置界面選擇【F2 】載入曲線,按選對(duì)應(yīng)的單元數(shù)字鍵,則成功調(diào)用該曲線。本儀器共可存儲(chǔ)12 條曲線,每條曲線最大存儲(chǔ)掃描點(diǎn)不大于2000 點(diǎn)。屏幕說明:
●【< >移標(biāo)】:掃描曲線軌跡跟蹤移動(dòng)標(biāo)記。續(xù)按【← 】和【→ 】鍵,移動(dòng)標(biāo)記會(huì)自左往右或者自右往左在象限內(nèi)出現(xiàn),移標(biāo)所到之處,
能分別檢出掃描曲線相應(yīng)的x 與y 數(shù)值。
● PRT : 允許打印。按【 PRINT 】鍵,將屏幕的圖文拷貝在您的繪圖儀中。
● F1-功能 :圖譜處理功能鍵, 按【 F1 】鍵,進(jìn)入圖譜的縮放與峰谷檢測功能。詳見 6.2.3。