事實上、濾光片的檢定均使用I級可見紫外分光光度計,而I級可見紫外分光光度計的MPE-±03(A)、MPE=±05(B段)。另外,受濾光片波長帶寬較寬的限制,期待減小標(biāo)定數(shù)據(jù)的不確定度來提升檢定能力并不可行。要想提高檢測能力,只能采用不確定度值更小的氧化鈥溶液波長標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)。檢定波長用標(biāo)準(zhǔn)器的選擇須考慮待選標(biāo)準(zhǔn)器的峰值的分布范圍、標(biāo)定數(shù)據(jù)的不確定度,以此確定能檢定分光光度計的級別。上海儀電分析儀器有限公司介紹JG178-2007《紫外、可見、近紅外分光光度計檢定規(guī)程》對波長標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的選擇已有具體的規(guī)定,現(xiàn)就從實際工作中的情況和可操作性方面分析檢定波長用標(biāo)準(zhǔn)器的選擇。介質(zhì)膜干涉濾光片光譜為單峰波形適合檢定手動調(diào)節(jié)波長的分光光度計,錯釹濾波片、氧化鈥濾波片光譜均為多峰波形適合檢定自動掃描波長的分光光度計。在實際工作中、可見分光光度計都是手動調(diào)節(jié)波長,且等級均為II、IV,紫外可見分光光度計手動調(diào)節(jié)波長、自動掃描波長兩種方式都存在。上海精科了解到因此、檢定可見分光光度計時,使用介質(zhì)膜干涉濾光片最佳,使用鐠釹濾波片可操作性較差。檢定手動調(diào)節(jié)波長紫外可見分光光度計時,可使用介質(zhì)膜干涉濾光片檢定B段,氧化鈥濾波片檢定A段,不考慮操作性差這一因素,也可以只使用氧化鈥濾波片檢定A段、B段。檢定自動掃描波長紫外可見分光光度計時,同時使用氧化鈥濾波片、錯釹濾波片可測得240~820nm范圍內(nèi)的峰值點,彌補(bǔ)了單獨使用氧化鈥濾波片只能測得240~640nm范圍的峰值點,所測波長范圍較短的缺陷,比較符合JJG1782007中要求每隔100nm至少選擇一個波長檢定點的要求。